大きな問題を未然に防ぐ。そこに必要なのはごくわずかな欠陥を検出する精度と速度です。JAIの高性能カメラに備わるビジョンテクノロジーが、それを支えています。
私たちの生活に欠くことのできないエレクトロニクス製品は、ナノスケールで製造されています。最高水準の精度で最微を正確に捉えるJAIの高速・高解像度カメラは、ウェハ検査やダイ検査システムのメーカーから高い信頼を得ています。
回路基板、フラットパネルディスプレイ、個々の部品、いずれも正確なビジョン検査の必須要件はスループットです。JAIは、質・量ともに要求されるビジョンシステムをサポートする業界最速のマシンジョンカメラを提供しています。
近紫外領域に感度を持ち、半導体ウェハの細部を詳細に検査するUVカメラから、ごくわずかな色の変化を検出するRGBプリズム分光式カメラ、1回の撮像で大型プリント基板を検査する高解像度モノクロカメラまで、JAIは最先端エレクトロニクス製品のあらゆる製造工程に対応するソリューションを提供しています。
私たちの生活に欠くことのできないコンピュータやモバイル機器、車など多くの製品は、エレクトロニクスの発展なくして現在のレベルに達することはなかったでしょう。あらゆる電子機器には数多くの電子部品が使われ、技術革新とともに小型化し、精密さ、複雑さが増しています。それは、品質管理を担うビジョンシステムへの要求も比例して高まることを意味しています。
カメラには、1平方ミリメートルに何百万個も収められるほど小さいシリコントランジスタを撮像する性能が必要です。また、PCB組立システムが1時間あたり100,000個の部品を配置する速さを持っていても、検査システムに同等の速さがないと、それまでの工程速度は無駄になります。しかも、ウェハの小さな表面欠陥は、光の反射によるわずかな色の変化によってしか検出できません。
長年に渡るお客様との対話と採用実績を通じて、JAIはそのことをよく知っています。高速生産ラインや高度なウェハ製造工程において、最高水準の品質が要求されるエレクトロニクス・半導体検査システム。その名だたるメーカーにJAIのカメラが採用される理由はそこなのです。
あらゆる電子機器の基幹コンポーネントであるプリント回路基板は、ますます複雑になっていきます。すべての部品は仕様どおり正確に配置されているか。厳しい品質管理が要求されるビジョンシステムで、カメラは過酷な役割を求められます。
たった1本のワイヤの破損が、誤作動や不良品発生の原因となります。JAIのカメラは、わずかな位置ずれや形状の異常も見逃しません。
電子部品の位置決め、配置には、マシンビジョンシステムが設計どおりに正確に動作することが要求されます。JAIのカメラは誤配置を識別し、マシンビジョンシステムをサポートします。
JAIのカメラは、ウェハプロービング、ウェハダイシング、リードフレーム、ダイ、ワイヤボンディングなど、半導体工程におけるさまざまな検査に最適です。
最終品質検査は、ビジネスを成功に導く鍵を握ります。JAIのカメラはわずかな不具合も検出し、貴社の厳しい品質管理サポートします。
以下のカメラは、電子部品検査システムで多く利用されているJAIのカメラです。ご興味を持たれましたら、ぜひお気軽にJAIにお問い合わせください。
130万画素 プリズム分光式HDRカメラ
320万画素 x 3CMOS プリズム分光式カラーカメラ
160万画素 x 3CMOS プリズム分光式カラーカメラ
500万画素 1型CMOSエリアスキャン
2000万画素 30fps CMOSエリアスキャン
1200万画素 189fps CMOSエリアスキャン
500万画素 1型 CMOSエリアスキャン
JAIのプロダクトエンジニアがいつでもご相談を承ります。お気軽にご一報ください。
正しく表示させるにはブラウザをアップデートしてください。 今すぐブラウザをアップデートする
×