JAI | Wave Series WA-1000D-CL InGaAsセンサ搭載のJAI 短波長赤外線(SWIR)ラインスキャンカメラ

Wave Series : WA-1000D-CL
InGaAsセンサ搭載 短波長赤外線(SWIR)ラインスキャンカメラ

Waveシリーズは、短波長赤外(SWIR)帯域での撮像が可能な、デュアルバンドの1Kラインスキャンカメラです。InGaAsセンサを2枚搭載し、JAIのプリズムラインスキャン技術をベースに設計されています。これりによって、SWIR帯域(900 nm~1700 nm)で2波長を同時に撮像可能です。

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Product Image Wa 1000 D Cl Front
Product Image Wa 1000 D Cl Back

通常では見えない「隠れた」視覚データを提供

Waveシリーズのカメラに搭載されてるInGaAsセンサは、CCD/CMOSセンサで光量子を検出できない場合でも、SWIR帯域の波長を検知し、「隠れている」異物などの発見に利用可能です。JAIのSWIRカメラ技術は、これまでの可視光や近赤外帯域を超えたマシンビジョン検査システムの構築を実現し、画像認識処理の幅を広げます。

デュアルバンドの撮像を実現

入射光をプリズムを通して分光することで、検査対象物の全く同じ箇所に対して、2枚のセンサで2つの異なるSWIR波長の画像を同時に収集します。「各種の化学成分におけるSWIR光の吸収レベルがそれぞれ異なる」という性質を活かし、1つのスペクトル帯では捉えられない異物などの検査や選別に利用可能です。

高性能プリズム技術を採用

1つの入射光をプリズムを通して分光し、2枚のセンサに投射するため、フィルタホイールを使ったカメラのような摩耗する可動部がありません。また、高速で移動する検査対象物でも、デュアルスペクトルイメージを正確に位置合わせすることができます。

特長

  • SWIRで2波長を同時に撮像

  • 波長帯域1024ピクセル解像度×2:900 nm~1400 nm、1400 nm~1700 nm

  • ラインレート: 39 kHz(39,230 line/秒)

  • 画像前処理機能:画素ゲイン補正、シェーディング補正(フラットフィールド)、LUT、ガンマ機能など

  • Camera Link経由で、Dual-Baseまたは2ch Medium configuration切り換えが可能

  • 高価なカスタムレンズやウィンドウを必要とするMWIRカメラと比べて、さまざまな種類の市販オプションが利用可能

  • 冷却不要

  • 産業環境の厳しい要求に応える信頼性と耐久性を備えた堅牢設計

仕様

シリーズ名

Wave Series

型番

WA-1000D-CL

カメラタイプ

ラインスキャン

カラー/モノクロ

マルチスペクトル

波長

短波長赤外 (SWIR)

規格

N/A

規格 横x縦

1024 x 1 px

フレームレート/ラインレート

39 kHz

ROI

なし

インターフェース

Camera Link

センサ

2InGaAs

センサ名

Custom

センササイズ

25.6 mm

画素サイズ 横x縦

25.0 x 25.0 µm

シャッタ

グローバルシャッタ

センサ対角

25.7 mm

センササイズ 横x縦

25.7 mm

外形寸法 高さx幅x奥行

90 x 90 x 117 mm

重量

910 g

映像信号出力

8/10/12-bit

レンズマウント

M52マウント

消費電力

9.84 W

動作温度 (周辺温度)

-5°C ~ +45°C

Demension Image Wa 1000 D Cl Side

Waveシリーズ産業用カメラが特に有効な用途

食品加工における乾燥度検査

Waveシリーズのカメラは、ドライフルーツや茶葉などのささまざまな食品加工用途において、乾燥度の検査に利用されています。

果物や野菜の品質検査

ベルトコンベヤを流れる果物や野菜の成熟度測定に導入されています。同時に、傷やへこみ、皮の下で発生している劣化や混入物なども検査することができます。

産業資材の乾燥度

Waveシリーズのカメラは、さまざまな資材の製造や塗装工程で、水分量や乾燥度の検査に利用されています。

プラスチック化合物の選別

材料の再利用と環境に有害な物質を適切に処分するため、ベルトコンベヤーを流れるさまざまなプラスチックから、再利用するものと有害なものとを選別する用途で利用されています。

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