Waveシリーズのカメラに搭載されてるInGaAsセンサは、CCD/CMOSセンサで光量子を検出できない場合でも、SWIR帯域の波長を検知し、「隠れている」異物などの発見に利用可能です。JAIのSWIRカメラ技術は、これまでの可視光や近赤外帯域を超えたマシンビジョン検査システムの構築を実現し、画像認識処理の幅を広げます。
入射光をプリズムを通して分光することで、検査対象物の全く同じ箇所に対して、2枚のセンサで2つの異なるSWIR波長の画像を同時に収集します。「各種の化学成分におけるSWIR光の吸収レベルがそれぞれ異なる」という性質を活かし、1つのスペクトル帯では捉えられない異物などの検査や選別に利用可能です。
1つの入射光をプリズムを通して分光し、2枚のセンサに投射するため、フィルタホイールを使ったカメラのような摩耗する可動部がありません。また、高速で移動する検査対象物でも、デュアルスペクトルイメージを正確に位置合わせすることができます。
Wave Series
WA-1000D-CL
ラインスキャン
マルチスペクトル
短波長赤外 (SWIR)
N/A
1024 x 1 px
39 kHz
なし
Camera Link
2InGaAs
Custom
25.6 mm
25.0 x 25.0 µm
グローバルシャッタ
25.7 mm
25.7 mm
90 x 90 x 117 mm
910 g
8/10/12-bit
M52マウント
9.84 W
-5°C ~ +45°C