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Wave系列
WAA-1300-GE-TEC
高性能 InGaAs 可见光 + 短波红外(SWIR)面阵扫描相机

WAA-1300-GE-TEC 短波红外面阵扫描相机,支持 400~1700 nm 可见光与短波红外(SWIR)同步成像,130 万分辨率,帧率高达 90 fps。搭载 TEC 制冷,有效控制传感器温度与噪声,在严苛环境下仍能保持出色的图像一致性与性能。

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Product Image WAA 1300 GE TEC Direct front
Product Image WAA 1300 GE TEC 45 degree front
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Product Image WAA 1300 GE TEC 45 degree back angle
Product Image WAA1300 GE TEC Direct back view

TEC主动控温,让双谱段成像始终如一

相机内置热电制冷(TEC)模块,支持主动温度调节,可将传感器精确维持在用户设定的工作温度。即使面对长时间连续运行或环境温度波动,也能始终保持稳定的成像表现。通过有效降低暗电流噪声,显著提升图像质量与动态范围,确保可见光与SWIR双谱段成像的性能优势得到充分发挥。

GigE Vision数据接口高效传输

相机采用标准 GigE Vision 数据接口,确保高速成像下的稳定数据传输,同时简化系统集成,无需额外采集卡,进一步降低系统总成本。

可见光 + 短波红外宽谱段

400 nm 至 1700 nm宽光谱响应,单台相机即可同步捕获可见光与短波红外信息。在显著提升物体成像对比度的同时,有效简化系统架构,拓展应用场景。

Features

  • 130 万分辨率,5 µm 像元尺寸。

  • 1280 x 1024 像素输出,帧率高达 90 fps。

  • InGaAs 图像传感器(400~1700 nm 光谱响应)

  • 可选输出格式(8/10/12 bit)。

  • 支持像素合并、图像水平和垂直翻转。

  • 感兴趣区域(ROI):选取传感器指定区域采集图像,缩减数据量,提升采集与处理速度。

  • 集成热电制冷 (TEC)。

  • 图像均匀性校正:平场校正 (FFC)、坏点校正 (DPC)、黑电平控制和伽马调节

  • 图像调优与增强:亮度和对比度调节、时域及空域降噪、图像增强控制、LUT

  • 增益调节范围 0dB 至 42dB

  • 光学接口C Mount

规格

系列名

Wave系列

型号

WAA-1300-GE-TEC

摄像机类别

面阵扫描

彩色/黑白

单色

波长

SWIR

规格

1.3 百万像素

规格 横x纵

1280 x 1024

帧率/线率

90 fps

ROI

接口

GigE Vision接口

感光芯片

1xInGaAs

感光芯片名

IMX990

感光芯片尺寸

1/2 inch

像素尺寸 横x纵

5.0 x 5.0 µm

快门方式

全局快门

感光芯片对角

8.2 毫米

有效感光芯片尺寸 横x纵

5.12 x 6.4mm

摄像机尺寸 高x宽x长

60.0 x 60.0 x 80.5

重量

400 克

视频信号输出

8/10/12-bit

镜头接口

C口

耗电

6.5 瓦

动作温度 (自然放热时)

-20°C to +55°C

典型应用

WAA-1300-GE-TEC 短波红外面阵扫描相机可广泛应用于各类机器视觉检测场景

果蔬分选与分级

可见光 + 短波红外(SWIR)双波段成像方案,可精准识别果蔬瘀伤、水分差异、成熟度、早期腐烂及细微材质差异。

半导体检测

硅材料对短波红外光具备高透过特性,相机可采集穿透硅材后的红外图像,清晰获取定位标记(Mark 点)的对位状态。系统自动判定 Mark 点中心重合度,当位置偏差处于设定容差范围内时,即可实现高精度自动对位。

塑料密封检测

在塑料密封检测中,可见光 + SWIR 技术可大幅提升包装材料与内容物的对比度,轻松识别密封不严、污染物、异物等可见光难以捕捉的缺陷。

激光光斑分析

相机在可见光、短波红外波段均具备优异的感光灵敏度,适配激光测量、光斑轮廓检测系统,可兼容 400~1700nm 波段范围内的各类激光器。

再生资源分拣

通过融合可见光和短波红外信息,精准识别分拣产线上的塑料、纸张、纺织品及复合材料。借助材料独有的光谱特征,区分外观相似的物质,有效提高分拣精度与回收效率。

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