Die WAA-1300-GE-TEC ist eine leistungsstarke industrielle Flächenkamera für den sichtbaren und nahinfraroten Bereich, die eine spektrale Empfindlichkeit von 400 nm bis 1700 nm mit einer Auflösung von 1,3 MP und Bildraten von bis zu 90 Bildern/s kombiniert. Die integrierte thermoelektrische Kühlung (TEC) minimiert das Sensorrauschen und sorgt für Temperaturstabilität, was eine konsistente, hochwertige Bildgebung gewährleistet.
Die integrierte TEC-Lösung kühlt den Sensor aktiv und sorgt für eine langfristig stabile Betriebstemperatur. Dies reduziert das Dunkelrauschen, verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis und trägt dazu bei, die Zuverlässigkeit der Kalibrierungsdaten für eine konsistente, hochwertige Bildgebungsleistung zu gewährleisten.
Eine stabile und effiziente Datenübertragung wird über eine GigE Vision-Schnittstelle erreicht, die eine zuverlässige Leistung für die Hochgeschwindigkeitsbildgebung gewährleistet, gleichzeitig die Systemintegration vereinfacht und den Einsatz kostspieliger, bildverarbeitungsspezifischer Bilderfassungskarten überflüssig macht.
Dank eines breiten Spektralbereichs von 400 bis ca. 1700 nm kann die Kamera sowohl Informationen im sichtbaren als auch im kurzwelligen Infrarotbereich erfassen, was einen verbesserten Materialkontrast und ein breiteres Anwendungsspektrum ermöglicht und gleichzeitig die Komplexität des Systems verringert.
1,3-Megapixel-Auflösung mit quadratischen 5-µm-Pixeln
Ausgabe mit 1280 x 1024 Pixeln bei bis zu 90 Bildern/s
InGaAs-Bildsensor für den sichtbaren und SWIR-Bereich (spektrale Empfindlichkeit 400–1700 nm)
Wählbare Ausgabeformate (Mono 8/10/12 Bit)
Unterstützt Binning und Bildspiegelung
Region of Interest (ROI). Ermöglicht die Bildaufnahme unter Verwendung ausgewählter Abschnitte der Sensorzeile
Integrierte thermoelektrische Kühlung (TEC)
Bildgleichmäßigkeit und -korrektur: Flat-Field-Korrektur (FFC), Korrektur defekter Pixel (DPC), Schwarzpegel- und Gamma-Steuerung
Bildoptimierung und -verbesserung: Helligkeits- und Kontraststeuerung, zeitliche und räumliche Rauschunterdrückung, Verbesserungssteuerung, LUT
Verstärkungsregelung von 0 dB bis 42 dB
Standard-C-Mount
Wave Series
WAA-1300-GE-TEC
Area Scan
Mono
SWIR
1.3 MP
1280 x 1024
90 fps
Ja
GigE Vision
1xInGaAs
IMX990
1/2 inch
5.0 x 5.0 µm
Global shutter
8.2 mm
5.12 x 6.4mm
60.0 x 60.0 x 80.5
400 g
8/10/12-bit
C-mount
6.5 Watt
-20°C to +55°C
Netzteil mit 12-poligem weiblichem Anschlusskabel – ohne Netzkabel.
(LKK-PSU-12PF-1.25)
Hirose-kompatibler Stecker mit einer Kabellänge von 1,25 Metern.
Hinweis: Dieses Netzteil kann NUR in Verbindung mit der Kamera bestellt werden (nicht als Einzelprodukt erhältlich).
Wenn Sie bei der Bestellung unserer Kameras ein Netzteil hinzufügen möchten, denken Sie bitte daran, auch das passende Netzkabel mitzubestellen.
Netzkabeloptionen (separat erhältlich):
Achten Sie darauf, das Kabel auszuwählen, das zu Ihrer regionalen Steckdose passt.
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Die Flächenkamera WAA-1300-GE-TEC eignet sich perfekt für eine Vielzahl von Bildverarbeitungsanwendungen
Die Bildgebung im sichtbaren und SWIR-Spektrum ermöglicht die Erkennung von Druckstellen, Feuchtigkeitsschwankungen, Reifegraden, vorzeitigem Verderb und subtilen Materialunterschieden. Sie unterstützt zudem die Klassifizierung nach Größe und Oberflächenqualität sowie die Inspektion verpackter Lebensmittel, einschließlich Verschlüssen und Siegeln.
In der Halbleiterfertigung macht die SWIR-Bildgebung Ausrichtungsmarkierungen unter Siliziumschichten sichtbar, ohne die Wafer-Struktur zu entfernen oder zu verändern. Dies ermöglicht eine präzise Ausrichtung aufeinanderfolgender Prozessschichten, während der gekühlte Sensor die für eine zuverlässige Erkennung und hochgenaue Messungen erforderliche Empfindlichkeit und Bildqualität liefert.
Ein verbesserter Kontrast bei transparenten und halbtransparenten Materialien ermöglicht die zuverlässige Erkennung und Messung von Heißsiegelungen, die mit der Bildgebung im sichtbaren Licht nur schwer zu beurteilen sind. Dies unterstützt die genaue Überprüfung der Siegelqualität und -konsistenz und hilft gleichzeitig dabei, Fehler zu identifizieren, die die Unversehrtheit der Verpackung beeinträchtigen könnten.
Die genaue Messung von Strahlform, Intensitätsverteilung und Ausrichtung wird durch die SWIR-Flächenabtastung ermöglicht. Die Technologie unterstützt zudem die Überwachung der Strahlstabilität und die sichere Charakterisierung von Hochleistungs- und Prozesslasern, die mit herkömmlichen Kameras für sichtbares Licht nicht zuverlässig gemessen werden können.
Die SWIR-Bildgebung ermöglicht eine zuverlässige Überprüfung der Materialklassifizierung nach der Sortierung und erlaubt gleichzeitig die Bewertung neuer Materialien und Sortierkriterien vor dem großflächigen Einsatz. Sie eignet sich besonders gut für die Inspektion größerer oder unregelmäßig geformter Objekte, bei denen die Bewegungssteuerung eingeschränkt oder unregelmäßig sein kann.
Lassen Sie sich von unseren Kameraexperten beraten.