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Wave-Serie
WAA-1300-GE-TEC
Hochleistungs-InGaAs-Flächenkamera für den sichtbaren und nahinfraroten Bereich

Die WAA-1300-GE-TEC ist eine leistungsstarke industrielle Flächenkamera für den sichtbaren und nahinfraroten Bereich, die eine spektrale Empfindlichkeit von 400 nm bis 1700 nm mit einer Auflösung von 1,3 MP und Bildraten von bis zu 90 Bildern/s kombiniert. Die integrierte thermoelektrische Kühlung (TEC) minimiert das Sensorrauschen und sorgt für Temperaturstabilität, was eine konsistente, hochwertige Bildgebung gewährleistet.

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Product Image WAA 1300 GE TEC Direct front
Product Image WAA 1300 GE TEC 45 degree front
Product Image WAA 1300 GE TEC Side view
Product Image WAA 1300 GE TEC 45 degree back angle
Product Image WAA1300 GE TEC Direct back view

Ausgestattet mit thermoelektrischer Kühlung (TEC)

Die integrierte TEC-Lösung kühlt den Sensor aktiv und sorgt für eine langfristig stabile Betriebstemperatur. Dies reduziert das Dunkelrauschen, verbessert das Signal-Rausch-Verhältnis und trägt dazu bei, die Zuverlässigkeit der Kalibrierungsdaten für eine konsistente, hochwertige Bildgebungsleistung zu gewährleisten.

Effiziente Datenübertragung über GigE Vision-Schnittstelle

Eine stabile und effiziente Datenübertragung wird über eine GigE Vision-Schnittstelle erreicht, die eine zuverlässige Leistung für die Hochgeschwindigkeitsbildgebung gewährleistet, gleichzeitig die Systemintegration vereinfacht und den Einsatz kostspieliger, bildverarbeitungsspezifischer Bilderfassungskarten überflüssig macht.

Breites Wellenlängenband im sichtbaren und SWIR-Bereich

Dank eines breiten Spektralbereichs von 400 bis ca. 1700 nm kann die Kamera sowohl Informationen im sichtbaren als auch im kurzwelligen Infrarotbereich erfassen, was einen verbesserten Materialkontrast und ein breiteres Anwendungsspektrum ermöglicht und gleichzeitig die Komplexität des Systems verringert.

Eigenschaften

  • 1,3-Megapixel-Auflösung mit quadratischen 5-µm-Pixeln

  • Ausgabe mit 1280 x 1024 Pixeln bei bis zu 90 Bildern/s

  • InGaAs-Bildsensor für den sichtbaren und SWIR-Bereich (spektrale Empfindlichkeit 400–1700 nm)

  • Wählbare Ausgabeformate (Mono 8/10/12 Bit)

  • Unterstützt Binning und Bildspiegelung

  • Region of Interest (ROI). Ermöglicht die Bildaufnahme unter Verwendung ausgewählter Abschnitte der Sensorzeile

  • Integrierte thermoelektrische Kühlung (TEC)

  • Bildgleichmäßigkeit und -korrektur: Flat-Field-Korrektur (FFC), Korrektur defekter Pixel (DPC), Schwarzpegel- und Gamma-Steuerung

  • Bildoptimierung und -verbesserung: Helligkeits- und Kontraststeuerung, zeitliche und räumliche Rauschunterdrückung, Verbesserungssteuerung, LUT

  • Verstärkungsregelung von 0 dB bis 42 dB

  • Standard-C-Mount

Spezifikationen

Produktlinie

Wave Series

Modell

WAA-1300-GE-TEC

Typ

Area Scan

Farbe / Mono

Mono

Lichtspektrum

SWIR

Auflösung

1.3 MP

Auflösung WxH

1280 x 1024

Bildrate / Zeilenrate

90 fps

ROI

Ja

Schnittstelle

GigE Vision

Sensoren

1xInGaAs

Sensorname

IMX990

Optisches Format

1/2 inch

Zellengröße WxH

5.0 x 5.0 µm

Verschlussart

Global shutter

Sensordiagonale

8.2 mm

Abmessungen des aktiven Sensors WxH

5.12 x 6.4mm

Kameraabmessungen HxWxL

60.0 x 60.0 x 80.5

Gewicht

400 g

Video-Ausgang

8/10/12-bit

Objektivfassung

C-mount

Energieverbrauch

6.5 Watt

Betriebstemperatur (Umgebung)

-20°C to +55°C

Typische Anwendungen

Die Flächenkamera WAA-1300-GE-TEC eignet sich perfekt für eine Vielzahl von Bildverarbeitungsanwendungen

Sortieren und Klassifizieren von Obst und Gemüse:

Die Bildgebung im sichtbaren und SWIR-Spektrum ermöglicht die Erkennung von Druckstellen, Feuchtigkeitsschwankungen, Reifegraden, vorzeitigem Verderb und subtilen Materialunterschieden. Sie unterstützt zudem die Klassifizierung nach Größe und Oberflächenqualität sowie die Inspektion verpackter Lebensmittel, einschließlich Verschlüssen und Siegeln.

Ausrichtung in der Halbleiterfertigung

In der Halbleiterfertigung macht die SWIR-Bildgebung Ausrichtungsmarkierungen unter Siliziumschichten sichtbar, ohne die Wafer-Struktur zu entfernen oder zu verändern. Dies ermöglicht eine präzise Ausrichtung aufeinanderfolgender Prozessschichten, während der gekühlte Sensor die für eine zuverlässige Erkennung und hochgenaue Messungen erforderliche Empfindlichkeit und Bildqualität liefert.

Prüfung von Kunststoffversiegelungen

Ein verbesserter Kontrast bei transparenten und halbtransparenten Materialien ermöglicht die zuverlässige Erkennung und Messung von Heißsiegelungen, die mit der Bildgebung im sichtbaren Licht nur schwer zu beurteilen sind. Dies unterstützt die genaue Überprüfung der Siegelqualität und -konsistenz und hilft gleichzeitig dabei, Fehler zu identifizieren, die die Unversehrtheit der Verpackung beeinträchtigen könnten.

Laserprofil-Erkennung

Die genaue Messung von Strahlform, Intensitätsverteilung und Ausrichtung wird durch die SWIR-Flächenabtastung ermöglicht. Die Technologie unterstützt zudem die Überwachung der Strahlstabilität und die sichere Charakterisierung von Hochleistungs- und Prozesslasern, die mit herkömmlichen Kameras für sichtbares Licht nicht zuverlässig gemessen werden können.

Recycling und Materialsortierung

Die SWIR-Bildgebung ermöglicht eine zuverlässige Überprüfung der Materialklassifizierung nach der Sortierung und erlaubt gleichzeitig die Bewertung neuer Materialien und Sortierkriterien vor dem großflächigen Einsatz. Sie eignet sich besonders gut für die Inspektion größerer oder unregelmäßig geformter Objekte, bei denen die Bewegungssteuerung eingeschränkt oder unregelmäßig sein kann.

Wir helfen Ihnen gerne dabei, die perfekte Bildverarbeitungskamera zu finden.

Lassen Sie sich von unseren Kameraexperten beraten.

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