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Wave 시리즈
WAA-1300-GE-TEC
고성능 InGaAs 가시광선 + SWIR 에어리어 스캔 카메라

WAA-1300-GE-TEC은 400nm~1700nm의 스펙트럼 감도와 1.3MP 해상도, 최대 90fps의 프레임 속도를 결합한 고성능 산업용 가시광선 + SWIR 에어리어스캔 카메라입니다. 통합된 열전 냉각(TEC) 기능은 센서 노이즈를 최소화하고 온도 안정성을 유지하여 일관되고 고품질의 이미지를 제공합니다.

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Product Image WAA 1300 GE TEC Direct front
Product Image WAA 1300 GE TEC 45 degree front
Product Image WAA 1300 GE TEC Side view
Product Image WAA 1300 GE TEC 45 degree back angle
Product Image WAA1300 GE TEC Direct back view

열전 냉각(TEC) 솔루션 탑재

통합된 TEC 솔루션은 센서를 능동적으로냉각하여 장기간 안정적인작동 온도를 유지합니다. 이를 통해 다크노이즈를 줄이고 신호대 잡음비를 개선하며, 일관되고 고품질의 이미징성능을 위해 보정데이터의 신뢰성을 유지하는데 도움이 됩니다.

GigE Vision 인터페이스를 통한 효율적인 데이터 전송

GigE Vision 인터페이스를 통해안정적이고효율적인 데이터 전송이이루어지므로, 시스템 통합을간소화하고고가의 머신 비전전용 프레임 그래버카드가 필요 없으면서도고속 이미징을 위한신뢰할 수 있는성능을 보장합니다.

가시광선 + SWIR 광대역

400nm에서 약 1700nm에 이르는 넓은 스펙트럼 범위를 통해 이 카메라는 가시광선과 단파장 적외선 정보를 모두 획득할 수 있어, 시스템의 복잡성을 줄이면서도 재료의 명암 대비를 높이고 적용 범위를 확대합니다.

특징

  • 5µm 정사각형 픽셀을 갖춘 1.3메가픽셀 해상도

  • 최대 90fps에서 1280 x 1024 픽셀 출력

  • 가시광선 + SWIR InGaAs 이미지 센서(400–1700 nm 스펙트럼 응답)

  • 선택 가능한 출력 형식(Mono8/10/12비트)

  • 비닝 및 이미지 뒤집기 지원

  • 관심 영역(ROI). 센서의 선택된 영역만 사용하여 이미지 획득 가능

  • 통합 열전 냉각(TEC)

  • 이미지 균일성 및 보정: 플랫 필드 보정(FFC), 불량 픽셀 보정(DPC), 블랙 레벨 및 감마 제어

  • 이미지 튜닝 및 향상: 밝기 및 대비 제어, 시간 및 공간 노이즈 제거, 향상 제어, LUT

  • 0dB ~ 42dB의 게인 제어

  • 표준 C-마운트

사양

제품

Wave 시리즈

모델

WAA-1300-GE-TEC

타입

Area Scan

컬러 / 모노

Mono

라이트 스펙트럼

SWIR

해상도

1.3 MP

해상도 WxH

1280 x 1024

프레임 속도 / 라인 속도

90 fps

ROI

인터페이스

GigE Vision

센서

1xInGaAs

센서명

IMX990

광학 포맷

1/2 inch

셀 사이즈 WxH

5.0 x 5.0 µm

셔터 타입

Global shutter

센서 대각선

8.2 mm

엑티브 센서 크기 WxH

5.12 x 6.4mm

카메라 크기 HxWxL

60.0 x 60.0 x 80.5

무게

400 g

비디오 아웃

8/10/12-bit

렌즈 마운트

C-mount

소비전력

6.5 Watt

사용온도(대기온도)

-20°C to +55°C

대표적인 적용 분야

WAA-1300-GE-TEC 에어리어 스캔 카메라는 다양한 머신 비전 애플리케이션에 완벽하게 적합합니다.

과일 및 채소 선별 및 등급 분류

가시광선 및 SWIR 이미징을 통해 멍, 수분 변화, 숙성도, 초기 부패 및 미세한 재료 차이를 감지할 수 있습니다. 또한 크기 및 표면 품질을 기반으로 한 등급 분류는 물론, 캡 및 밀봉 상태를 포함한 포장 식품 검사도 지원합니다.

반도체 얼라인먼트

반도체 제조 공정에서 SWIR 이미징은 웨이퍼 구조를 제거하거나 변경하지 않고도 실리콘 층 아래의 정렬 마크를 검출합니다. 이를 통해 연속적인 공정 층의 정밀한 정렬이 가능하며, 냉각 센서는 신뢰할 수 있는 감지와 고정밀 측정에 필요한 감도와 이미지 품질을 제공합니다.

플라스틱 밀봉 검사

투명 및 반투명 소재에서 향상된 명암비 덕분에 가시광선 이미징으로는 평가하기 어려운 열 밀봉을 안정적으로 감지하고 측정할 수 있습니다. 이를 통해 밀봉 품질과 일관성을 정확하게 검증할 수 있을 뿐만 아니라, 패키지 무결성을 저해할 수 있는 결함을 식별하는 데 도움이 됩니다.

레이저 빔 프로파일링

SWIR 영역 스캔 이미징을 통해 빔 형상, 강도 분포 및 정렬을 정확하게 측정할 수 있습니다. 또한 이 기술은 기존 가시광선 카메라로는 신뢰성 있게 측정할 수 없는 고출력 및 공정용 레이저의 빔 안정성 모니터링과 안전한 특성 분석을 지원합니다.

재활용 및 재료 분류

SWIR 이미징은 분류 후 재료 분류의 신뢰성 있는 검증을 지원하는 동시에, 본격적인 도입 전에 새로운 재료와 분류 기준을 평가할 수 있게 해줍니다. 이는 모션 제어가 제한적이거나 일관되지 않을 수 있는 크고 불규칙한 형태의 물체를 검사하는 데 특히 효과적입니다.

완벽한 머신 비전 카메라를 찾으실 수 있도록 도와드리겠습니다.

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