WAA-1300-GE-TEC は、スペクトル範囲 400 nm ~ 1700 nm、解像度 130 万画素の InGaAs イメージセンサを搭載し、最大フレームレート90 fps を誇る、産業用の可視光 + SWIRエリアスキャンカメラです。ペルチェ冷却 (TEC) システム内蔵でセンサノイズを最小限に抑え、温度の安定性を維持することで、一貫して高品質な画像の取得を実現します。
TEC でセンサをアクティブに冷却し、長時間にわたり動作温度の安定を確保することで、ダークノイズを低減し、S/N 比を向上させ、キャリブレーションデータの信頼性を維持します。これにより、カメラは常に一貫して高品質なイメージング性能を発揮します。
GigE Vision インターフェースにより、安定的かつ効率的なデータ転送を実現。高速イメージングにおいて信頼性の高いパフォーマンスを確保すると同時に、システムへの組み込みも簡素化され、高価なマシンビジョン専用のフレームグラバーも不要です。
400 nmから約1700 nmという広いスペクトル範囲により、本カメラは可視光線と短波長赤外線の両方の情報を取得できるため、対象物の材料特性の違いを従来よりも明確に可視化でき、適用範囲の拡大と同時に、システムの複雑化を軽減します。
解像度 130 万画素、画素サイズ 5 µm × 5 µm
最大 90 fps での 1280 x 1024 出力
可視光 + SWIR InGaAs イメージセンサ (スペクトル範囲 400 ~ 1700 nm)
出力フォーマット: Mono8 / 10 / 12 ビット
ビニング機能および画像フリップ機能
ROI 機能
ペルチェ冷却 (TEC)
フラットフィールド補正、画素欠陥補正、黒レベル調整、ガンマ調整
輝度調整、コントラスト調整、空間ノイズ除去、LUT
0 dB ~ 42 dBのゲインコントロール
C マウントレンズ対応
Wave Series
WAA-1300-GE-TEC
エリアスキャン
モノクロ
SWIR
1.3 MP
1280 x 1024
90 fps
あり
GigE Vision
1xInGaAs
IMX990
1/2型
5.0 x 5.0 µm
グローバルシャッタ
8.2 mm
5.12 x 6.4mm
60.0 x 60.0 x 80.5
400 g
8/10/12-bit
Cマウント
6.5 W
-20°C to +55°C
WAA-1300-GE-TEC は、様々なマシンビジョン用途に適しています。
可視光 + SWIR イメージングは、対象物の打撲痕、水分量のばらつき、熟度、初期腐敗、および肉眼では確認できない微妙な組成の違いを検出することが可能です。色、サイズ、表面品質に基づいた等級分けのほか、キャップやシールを含め包装食品の検査にも対応しています。
SWIR イメージングは、ウェハの構造を剥離したり変更したりする必要なく、シリコン層の下にあるアライメントマークを可視化できるため、連続する層の精密な位置合わせが可能になります。TEC 冷却で安定稼働するセンサから得られる、常に感度と画質に優れた画像が、検出精度や測定精度を支えます。
SWIR イメージングは、透明や半透明な包装材のコントラストを向上させ、可視光イメージングでは検査が困難なヒートシール部の検出や測定も確実に行えます。シール部分の品質や一貫性を正確に検証したり、パッケージの完全性を損なう可能性のある欠陥を特定したりできます。
SWIR エリアスキャンイメージングでは、ビーム形状や強度分布、アライメントの正確な測定が可能です。従来の可視光カメラでは測定が難しかった、高出力レーザーのビーム強度モニタリングや、ビーム特性評価も安全に実施することができます。
SWIR イメージングでは、資源の分別ミスや漏れがないかを確実に検証することができるため、受け入れ資材を増やしたり新たな分別基準を導入したりする際、それらの事前評価にも役立ちます。また、大きかったり不規則な形状だったりすることで、動きの制御がしづらい対象物を検査する際にも効果的です。
JAIのプロフェッショナルに是非ご相談ください。