シングルセンサ SWIR エリアスキャンカメラ

JAI では、産業用マシンビジョン向けに InGaAs (インジウム・ガリウム・ヒ素)センサを搭載した高性能 SWIR エリアスキャンカメラを提供しています。SWIR (短波長赤外線) カメラは、従来のカメラでは見ることができなかった情報を可視化し、検査性能の向上、素材の識別、水分検出、不良検出を実現します。

JAI 独自のシングルセンサ SWIR 技術は、400 nm から約 1700 nm までの分光感度を備えているため、可視光画像と SWIR 画像を同時に取得できます。1 台のカメラでより豊富な画像情報が得られると同時に、システムはよりシンプルにすることができます。

現在ご提供している SWIR エリアスキャンカメラのラインナップは、Wave シリーズ の WAA-1300-GE-TEC となります。高性能なソニー製 InGaAs センサとペルチェ冷却 (TEC) 機能を搭載しており、条件の厳しい検査用途においても、低ノイズで安定した撮像性能を発揮します。

また、高速な連続検査向けには、同じく InGaAsセンサ技術を採用したシングルセンサ  SWIR ラインスキャンカメラも提供しています。