JAIのWaveシリーズに、SWIR (短波長赤外線) の検出が可能なInGaAs (インジウム・ガリウム・ヒ素) センサ搭載のラインスキャンカメラが新登場です。
Wave シリーズのカメラは、通常の可視光イメージングシステムでは見えない細部を、短波長赤外線のもとで可視化し、水分量、素材の差異、欠陥などを高コントラストで検出します。食品の選別、半導体やウェハ検査、廃棄物管理など、多岐にわたる場面で精度と効率の向上を実現します。
今回ご紹介する WAL モデルは、12.5 μm角の正方形大型画素を備えたイメージセンサを採用しており、低照度環境下での光感度が高く、S/N 比も優れています。14 ビットの映像出力により、16,384 階調のグレースケールで、素材の違いや欠陥をより精密に検出することが可能です。
※ROIの欄に「あり」となっているモデルは解像度を下げてより高速のフレームレートを得ることができます。詳しくはJAIまでぜひお問い合わせください。
JAIのプロダクトエンジニアがいつでもご相談を承ります。