Waveシリーズ : 高性能 SWIR ラインスキャンカメラ

JAIのWaveシリーズに、SWIR (短波長赤外線) の検出が可能なInGaAs (インジウム・ガリウム・ヒ素) センサ搭載のエリアスキャンカメラとラインスキャンカメラが勢揃いです。

Wave シリーズのカメラは、通常の可視光イメージングシステムでは見えない細部を、短波長赤外線のもとで可視化し、水分量、素材の差異、欠陥などを高コントラストで検出します。食品の選別、半導体やウェハ検査、廃棄物管理など、多岐にわたる場面で精度と効率の向上を実現します。

エリアスキャンカメラ (WAA モデル) は、400 nm ～ 約1700 nmの波長範囲に対応した高度なセンサ設計で、可視光と短波長赤外線の両方の画像データを同時に取得可能です。

ラインスキャンカメラ (WAL モデル) は、12.5 μm角の正方形大型画素を備えたイメージセンサを採用しており、低照度環境下での光感度が高く、S/N 比も優れています。14 ビットの映像出力により、16,384 階調のグレースケールで、素材の違いや欠陥をより精密に検出することが可能です。