WAL-2001-GE は、2K 解像度(ピクセルシフト方式)の高性能産業用 InGaAs SWIR ラインスキャンカメラです。画素サイズは 12.5 µm x 12.5 µm 角で、GigE Vision インターフェースの採用により信頼性の高いデータを効率的に伝送します。最大ラインレート 40 kHz (40,000ライン/秒) の高速スキャンが可能となっており、果物や野菜の選別、ウェハ検査、リサイクル分別など、高速稼働している工程上で高い精度を求められる検査に最適です。
12.5 µm 角の画素により高いS/N比と優れた感度を実現し、厳しい撮影条件においても正確で精緻な画像の取得が可能です。
最大 83% のピーク量子効率を誇るこのカメラは、SWIR 領域での高い感度を有しているため、高速シャッタ撮影や低照度環境での撮影でも画質が損なわれることがありません。
2K画像は、内蔵のピクセルシフト技術によって生成されます。これにより、高感度と小型の光学フォーマットを維持しながら、コンパクトな大画素センサーから2K出力を実現します。
2K ラインスキャン解像度 (ピクセルシフト)
センササイズ 12.8 mm、画素サイズ 12.5 μm x 12.5 μm
最大40 kHz (40,000 ライン/秒) のスキャンレート
GigE Vision インターフェース採用で効率的なデータ伝送を実現
InGaAs センサ搭載の産業用 SWIR カメラ (波長帯域 900 ~ 1700 nm)
選択可能な出力フォーマット: Mono8, Mono10, Mono12, Mono14-bit
充実の画像最適化機能: 不均一補正、オンラインフラットフィールド補正 (FFC)、画素欠陥補正 (DPC)、黒レベル調整、LUT
デジタルゲインコントロールおよびアナログゲインコントロール
Cマウントレンズ対応
Wave Series
WAL-2001-GE
ラインスキャン
モノクロ
SWIR
MP
2K
40 kHz
なし
GigE Vision
1xInGaAs
N/A
12.8 mm
12.5 x 12.5µm
グローバルシャッタ
60 x 60 x 50.75 mm
209 g
8/10/12/14-bit
Cマウント
4.3 W
-20°C to +55°C
WA-2001-GE SWIRラインスキャンカメラの代表的な用途をご紹介します。
SWIRイメージングは、CH吸収帯とOH吸収帯を用いて対象物の組成と水分含有量を評価することにより、汚染物や異物の検出、作物内部の打撲傷、熟度差、初期段階のカビといった品質変化の検知を可能にする技術です。
SWIRイメージングは、シリコン内部の隠れた亀裂や表面下の損傷、ダイシング工程で生じた欠陥を製造ライン上で検出する、高速ウェハ検査が可能です。
SWIRイメージングは、高速コンベア上のプラスチック、紙、繊維、複合資材を確実に識別し、視覚的には類似している物質どうしでも判別することが出来ます。また、可視光やNIRでは検出が困難な黒色または暗色のプラスチックも検出可能です。
SWIRイメージングは、ガラスまたはプラスチック容器内の液体の有無や充填レベルを、非接触で検証することが出来ます。水の SWIR吸収特性を活用し、内容物の不足、充填不良、成分の不一致を検出します。
SWIRラインスキャンイメージングは、透明ないし不透明プラスチックによるヒートシールを連続生産ライン上で確実に検証できます。可視光画像では識別が困難な気泡、シワ、密封不良、ヒートシールストリップ部の異常といった封緘不良の検出が可能になります。
JAIのプロフェッショナルに是非ご相談ください。