シングルセンサSWIRラインスキャンカメラ

JAI では、高速な産業用検査システム向けに InGaAs (インジウム・ガリウム・ヒ素)センサを搭載した高性能 SWIR ラインスキャンカメラを提供しています。SWIR (短波長赤外線) カメラは、従来のカメラでは見ることができなかった情報を可視化し、素材の違い、水分含有量、内部に潜む欠陥などを確実に検出します。

SWIR ラインスキャンイメージングは、フィルムやシートなど帯状の材料や、生産ライン上を移動している製品の連続検査に最適です。食品の選別、半導体やウェハの検査、リサイクル資材の分別、廃棄物処理など、様々な分野で検査精度と稼働効率を向上させることができます。

現在ご提供している SWIR ラインスキャンカメラは、Wave シリーズとしてラインナップしています。12.5 µm 角の大型正方形画素を採用し、高い光感度と優れたS/N比で、厳しい撮像条件下でも安定した性能を発揮します。14 ビットのビデオ出力により 16,384 階調のグレースケール表現が可能で、素材の違いや微細な欠陥をより精密に検出することができます。

また、高速検査以外にも幅広く産業用検査システムに対応できるよう、同じく InGaAs センサ技術を採用したシングルセンサ SWIR エリアスキャンカメラも提供しています。