JAI Wave Series는 단파장 적외선(SWIR, Short-Wave Infrared)을 감지할 수 있는 InGaAs(인듐 갈륨 비소) 센서를 탑재한 라인 스캔 카메라 제품군입니다.
Wave Series 카메라는 일반적인 가시광 이미징 시스템으로는 확인할 수 없는 정보를 시각화하여 수분 함량, 재질 차이 및 결함을 높은 대비로 검출할 수 있습니다. 이를 통해 식품 선별, 반도체 및 웨이퍼 검사, 폐기물 처리 등 다양한 산업용 머신 비전 애플리케이션에서 검사 정확도와 운영 효율성을 향상시킵니다.
SWIR 라인 스캔 카메라(WAL 모델)는 12.5 μm × 12.5 μm 크기의 대형 정사각형 픽셀을 갖춘 이미지 센서를 채택하여 저조도 환경에서도 높은 감도와 우수한 신호 대 잡음비(SNR) 성능을 제공합니다. 또한 14비트 비디오 출력을 통해 16,384단계의 그레이스케일을 구현하여 재질 차이와 결함을 더욱 정밀하게 검출할 수 있습니다.
* 참고: ROI 항목이 'YES'로 표시된 모델은 더 낮은 해상도로 더 높은 프레임 속도를 지원하도록 조정될 수 있습니다. 자세한 내용은 해당 제품 페이지에서 프레임 속도 계산기를 다운로드하거나 JAI로 문의해 주시기 바랍니다.
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