Die JAI Wave-Serie umfasst Flächen- und Zeilenkameras mit InGaAs-Sensoren (Indium-Gallium-Arsenid), die kurzwellige Infrarotstrahlung (SWIR – Short-Wave Infrared) erfassen können.
Kameras der Wave-Serie machen Details sichtbar, die für herkömmliche Bildverarbeitungssysteme im sichtbaren Spektralbereich unsichtbar bleiben. Dadurch lassen sich Feuchtigkeitsgehalt, Materialunterschiede und Defekte mit erhöhtem Kontrast erkennen. Dies verbessert die Genauigkeit und Effizienz in einer Vielzahl industrieller Bildverarbeitungsanwendungen, darunter Lebensmittelsortierung, Halbleiter- und Wafer-Inspektion sowie Abfallmanagement.
Die SWIR-Flächenkamera (WAA-Modelle) verfügt über ein fortschrittliches Sensordesign mit einem spektralen Empfindlichkeitsbereich von 400 nm bis etwa 1700 nm. Dadurch können sichtbare und kurzwellige Infrarotbilder gleichzeitig erfasst werden.
Die SWIR-Zeilenkameras (WAL-Modelle) verfügen über Bildsensoren mit großen quadratischen 12,5-µm-Pixeln, die eine hohe Lichtempfindlichkeit bei schlechten Lichtverhältnissen sowie ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis ermöglichen. Die 14-Bit-Bildausgabe mit 16.384 Graustufen erlaubt eine präzisere Erkennung von Materialunterschieden und Defekten.
* Hinweis: Modelle mit 'YES' in der ROI-Spalte können auf niedrigere Auflösungen bei höheren Bildraten eingestellt werden. Für weitere Informationen laden Sie bitte den Bildratenrechner herunter, der auf der jeweiligen Produktseite zur Verfügung steht, oder wenden Sie sich an JAI, um Unterstützung zu erhalten.
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