단일 센서 SWIR 라인 스캔 카메라

JAI는 고속 산업용 검사 애플리케이션을 위해 InGaAs(인듐 갈륨 비소) 센서 기술을 기반으로 한 고성능 SWIR 라인 스캔 카메라를 제공합니다. 이러한 단파장 적외선(SWIR) 카메라는 기존 가시광 이미징 시스템으로는 확인할 수 없는 정보를 제공하여 수분 함량, 재료 특성의 차이 및 숨겨진 결함을 신뢰성 있게 검출합니다.

SWIR 라인 스캔 이미징은 웹 소재, 시트 소재 및 이동 중인 제품의 연속 검사에 특히 적합합니다. 이 기술은 식품 선별, 반도체 및 웨이퍼 검사, 재활용, 폐기물 관리 등 다양한 산업 분야에서 검사 정확도와 공정 효율을 향상시킵니다.

현재 SWIR 라인 스캔 카메라는 Wave 시리즈로 제공됩니다. 12.5 µm 크기의 대형 정사각형 픽셀을 채택하여 높은 광 감도와 뛰어난 신호 대 잡음비(SNR)를 제공하며, 까다로운 이미징 환경에서도 우수한 성능을 유지합니다. 또한 14비트 비디오 출력으로 16,384단계의 그레이스케일을 제공하여 재료를 더욱 정밀하게 구분하고 미세한 결함을 안정적으로 검출할 수 있습니다.

JAI는 SWIR 라인 스캔 카메라 외에도, 첨단 InGaAs 센서 기술을 기반으로 한 단일 센서 SWIR 에어리어 스캔 카메라를 제공하여 다양한 산업용 검사 애플리케이션을 지원합니다.