JAI bietet fortschrittliche SWIR-Flächenkameras auf Basis der InGaAs-Sensortechnologie (Indium-Gallium-Arsenid) für industrielle Bildverarbeitungsanwendungen. Diese Kurzwellen-Infrarotkameras (SWIR) machen Details sichtbar, die mit herkömmlichen Kameras nicht erfasst werden können. Dadurch ermöglichen sie eine verbesserte Qualitätskontrolle, Materialidentifikation, Feuchtigkeitserkennung und Fehlererkennung.
Die Single-Sensor-SWIR-Technologie von JAI bietet eine spektrale Empfindlichkeit von 400 nm bis etwa 1700 nm und ermöglicht die gleichzeitige Erfassung von Bilddaten im sichtbaren und im SWIR-Spektralbereich. Diese kombinierte Erfassung von sichtbaren und SWIR-Wellenlängen liefert umfangreichere Bildinformationen und vereinfacht gleichzeitig die Systemintegration.
Das aktuelle Angebot an SWIR-Flächenkameras umfasst das Modell WAA-1300-GE-TEC aus der Wave-Serie. Ausgestattet mit einem leistungsstarken Sony-InGaAs-Sensor und thermoelektrischer Kühlung (TEC) liefert die Kamera rauscharme Bilddaten und eine stabile Leistung für anspruchsvolle Inspektionsanwendungen.
Für kontinuierliche Hochgeschwindigkeitsinspektionen bietet JAI außerdem Single-Sensor-SWIR-Zeilenkameras auf Basis der InGaAs-Sensortechnologie an.
* Hinweis: Modelle mit 'YES' in der ROI-Spalte können auf niedrigere Auflösungen bei höheren Bildraten eingestellt werden. Für weitere Informationen laden Sie bitte den Bildratenrechner herunter, der auf der jeweiligen Produktseite zur Verfügung steht, oder wenden Sie sich an JAI, um Unterstützung zu erhalten.