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单传感器短波红外面阵扫描相机

JAI 短波红外面阵扫描相机采用 InGaAs(铟镓砷)传感器,专为工业机器视觉应用设计。短波红外成像能够揭示传统可见光相机无法检测到的细节,从而提升材料识别、水分检测与缺陷检测的效率。

JAI 单传感器 SWIR 技术的光谱响应范围覆盖 400 nm 至约 1700 nm,可同时采集可见光与短波红外图像数据。双谱段成像可提供更丰富的图像信息,同时简化系统集成。

Wave 系列短波红外面阵扫描相机 WAA-1300-GE-TEC 采用高性能 Sony InGaAs 传感器,并配备热电制冷(TEC),可实现低噪声成像与稳定性能,满足严苛检测应用需求。

面向高速连续检测应用,JAI 还提供基于 InGaAs 传感器技术的单传感器短波红外线阵扫描相机。

Single sensor SWIR area scan camera
  • Wave 系列:工业级短波红外面阵扫描相机,采用先进 InGaAs 传感器,可同时获取可见光+短波红外,双谱段图像信息,实现更出色的材料识别与缺陷检测。
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Product Image WAA 1300 GE TEC Direct front
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Wave系列 WAA-1300-GE-TEC面阵扫描单色SWIR1.31280 x 102490 fps是GigE Vision接口1xInGaAsIMX9905.0 x 5.0 µm