JAI | JAI 라인 스캔 카메라. 싱글 카메라로 가시광선 R-G-B + SWIR 이미징 지원.

Sweep+ 시리즈
SW-4010Q-MCL
R-G-B-SWIR 이미지 동시 캡처.

JAI Sweep+ SW-4010Q-MCL 모델은 4개의 이미지 센서가 탑재된 프리즘 기반 산업용 라인 스캔 카메라입니다. 3개의 개별 CMOS 센서를 통해 적색, 녹색 및 청색 이미지 데이터를 동시에 수집하고 InGaAs(인듐갈륨비소) 기술 기반의 4번째 센서를 통해 단파장 적외선(SWIR) 스펙트럼 이미지 데이터를 수집할 수 있습니다.

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Product Image SW 4010 Q MCL front45 410x370px RI
Product Image SW 4010 Q MCL rear45 410x370px RI
Product Image SW 4010 Q MCL front 410x370px RI
Product Image SW 4010 Q MCL rear 410x370px
Product Image SW 4010 Q MCL side 410x370px

싱글 카메라로 가시광선 및 SWIR 동시 검사

SW-4010Q-MCL 모델의 프리즘 기술은 4개의 센서를 모두 동일한 광학 평면에 정렬하여 적색, 녹색, 청색 및 SWIR 이미지 데이터를 정확한 픽셀 수준으로 시차 문제없이 싱글 패스로 캡처할 수 있어 설정 복잡성 및 하드웨어 비용을 낮추는 등 머신 비전 시스템을 지원할 수 있습니다.

광범위한 멀티 스펙트럼 범위

카메라에 탑재된 3개의 CMOS 센서는 400nm~700nm의 가시광선 스펙트럼을 완벽하게 커버하며 InGaAs 센서는 약 800nm~1700nm 범위의 광선을 캡처합니다. 이를 통해 정밀한 표면 색상 검사를 수행하는 동시에 추가적인 "숨겨진" 이미지 데이터를 확인하기 위해 표면 아래를 살펴볼 수 있습니다.

유연한 동기화 옵션

내장된 크기 조정, ROI 및 비닝 기능을 통해 사용자는 가시광선과 SWIR 채널의 라인 속도와 FOV를 쉽게 정렬하고, RGB 픽셀 해상도를 SWIR 채널, SWIR 채널의 2배 또는 맞춤 해상도로 설정할 수 있습니다.

특징

  • R-G-B 및 SWIR의 동시 이미징을 위한 4센서 프리즘 기반 라인 스캔 카메라.

  • R-G-B 가시광선(400~700nm) 감지를 위한 3개 CMOS 센서

  • SWIR(800~1700nm) 감지를 위한 1개 InGaAs 센서.

  • 2가지 센서 타입의 센서 폭 및 라인 스캔 속도 동기화를 위한 Xscale 및 ROI 기능.

  • 색 공간 변환(RGB 채널만 해당) 기능 내장.

  • 각 채널별로 게인 및 셔터 시간 설정 가능.

  • 듀얼 스트림 데이터 출력(개별 스트림에서 RGB 및 SWIR).

  • 수평 및 수직 비닝(RGB 센서).

  • 프레임 그래버를 통한 연결이 힘든 경우 로터리 인코더에 직접 연결 가능.

  • 노이즈 감소 필터.

  • 플랫 음영 보정(RGB & SWIR).

  • 색 음영 보정(RGB).

  • Mini-Camera Link 인터페이스.

  • M-52 마운트.

  • 가시광선 및 SWIR 채널의 초점 유지에 최적화된 멀티 스펙트럼 렌즈(별도 판매).

Specifications

제품

Sweep+ 시리즈

모델

SW-4010Q-MCL

타입

Line Scan

컬러 / 모노

Multispectral

라이트 스펙트럼

4-bands R-G-B + SWIR

해상도

N/A

해상도 WxH

4096 x 1 px / 1024 x 1 px

프레임 속도 / 라인 속도

39 kHz

ROI

인터페이스

Mini Camera Link

센서

4xCMOS RGB/SWIR

센서명

Custom

광학 포맷

30.72 mm / 25.6 mm

셀 사이즈 WxH

7.5 x 7.5 µm & 25.0 x 25.0 µm

셔터 타입

Global shutter

센서 대각선

30.8 mm

엑티브 센서 크기 WxH

30.8 mm / 25.6 mm

카메라 크기 HxWxL

90 x 90 x 120 mm

무게

900 g

비디오 아웃

8/10/12-bit

렌즈 마운트

M52-Mount

소비전력

Watt

사용온도(대기온도)

-5°C to +45°C

Dimension Image SW 4010 Q MCL Side

Sweep+ 시리즈 R-G-B-SWIR 카메라를 활용하기 적합한 애플리케이션:

Sweep+ 라인 스캔 카메라는 머신 비전 시스템에서 가시광선과 SWIR 범위의 검사가 모두 필요한 경우 이상적인 선택입니다.

과일 및 채소 검사

과일 및 채소 검사 시 색상, 익은 정도, 손상, 껍질 속 부패 징후 확인 및 이물질(예: 돌, 금속 조각 등) 감지를 동시에 진행할 수 있습니다.

견과류, 아몬드 및 올리브 검사

가시광선 채널을 사용하여 견과류 및 아몬드의 색상, 크기, 모양 및 손상을 검사할 수 있으며 SWIR 채널을 사용하여 이물질(올리브 씨 포함)을 더 명확하게 검사할 수 있습니다.

반도체/웨이퍼 검사

SWIR 파장 대역에서 높은 스펙트럼 투과율을 갖는 실리콘 웨이퍼의 표면과 표면 아래에서 결함을 발견하는 반도체 산업의 검사 시스템에서 활용될 수있습니다.

제약 검사

완성된 패키지의 외관(컬러 인쇄 및 패키지 완성도 확인)을 검사하는 동시에 불투명 플라스틱 패키지 및 용기를 통해 정확한 용량 또는 채움 레벨을 검사합니다.

인쇄 검사

R-G-B 및 SWIR가 결합된 검사는 지폐의 색 정확성, 워터마크 및 보안 장치를 확인하는 통화 검사 및 제약 포장 검사에 이상적입니다.

배터리 검사

F결함 없는 배터리는 안전, 에너지 밀도 및 조기 성능 저하 방지를 위해 매우 중요합니다. 라인 스캔 카메라를 사용하여 전극 시트의 긁힘, 찌그러짐, 크레이터, 불순물, 기포 및 구멍과 같은 결함을 확인할 수 있습니다.

농업 및 임업

최근 몇 년 동안 정밀 농업 또는 지능형 농업은 기하급수적으로 성장했습니다. 잡초/야생 식물 제거 또는 정밀한 작물 수확은 지능형 농업에서 점점 더 중요해지고 있으며 R-G-B-SWIR 멀티 스펙트럼 카메라가 중요한 역할을 하고 있습니다.

웹 검사:

컬러 타일 및 직물(염색된 직물이 추가 처리를 위해 충분히 건조되었는지 확인) 등의 제조와 관련된 다양한 웹 검사 애플리케이션에서 활용될 수 있습니다.

LCD 디스플레이 검사

색 정확성을 검사하고 화면 픽셀의 긁힘 또는 기타 결함을 확인하는 평면 패널/디스플레이 표면 검사.

관심을 가질 만한 추가 리소스

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