2026年12月2日(水) 〜 12月4日(金)、パシフィコ横浜にて開催の「国際画像機器展 2026」に出展します。展示会では、JAI の先進的なカメラ技術を活用したマシンビジョンおよび産業用検査向けソリューションをご紹介いたします。 ご来場の際は、JAIブースへ是非お立ち寄りください。 ■出展概要 展示会名:国際画像機器展2026 (ITE2026) 会期:2026年12月2日 (水) ~ 12月4日 (金) 、10:00~17:00 会場:パシフィコ横浜 展示ホールD 小間番号:82 ■展示内容 WAA-1300-GE-TEC (Wave シリーズ) TEC冷却搭載のSWIRエリアスキャンカメラ。半導体アライメント、食品検査、包装検査に対応。 WAL-1001-GE (Wave シリーズ) SWIRの波長帯の情報を高精度に捉え、少ない光でもノイズを抑えた鮮明な撮像が可能なラインスキャンカメラ。 AP-5100Tシリーズ (Apex シリーズ) 光をプリズムで3分光し、R/G/Bごとに全画素を捉える3板カラーエリアスキャンカメラ。 SP-105000M-CXPOF (Spark シリーズ) CoaXPress-over-Fiber (最大100Gbps) 対応、105MP・109fpsを出力する高解像度・高速エリアスキャンカメラ。 SW-16000TL-TDI-CXP4A (Sweep シリーズ) 16KトライリニアカラーのTDIラインスキャンカメラ。最大80kHzの高速スキャン。